静电危；；；；；；；杭嘶肪诚碌姆阑つ烟

在进入医疗市场后的第一个冬季，，，，，，西北地域的一家医院向我们反馈了一个问题：“我们买的云桌面，，，，，，有几台USB 接口接连出现问题，，，，，，没法子用了。。。。。。。”

我们即刻赶赴现场进行调查，，，，，，相识到西北冬季的空气极度干燥，，，，，，加之医院内部为招架寒冷全力供暖，，，，，，医生们进入房间时会脱下厚沉的表套，，，，，，紧接着插入认证 U 盘，，，，，，这一连串的作为极易产生强烈的静电。。。。。。。医生们每天屡次插拔认证 U 盘，，，，，，历经几个月的反复操作后，，，，，，USB 接口失灵，，，，，，甚至导致整个芯片败坏，，，，，，无法开机。。。。。。。 

通常而言，，，，，，硬件接口设计城市配置 ESD 保；；；；；；；て骷，，，，，，以对接口信号予以保；；；；；；；ぃㄈ缟贤妓荆。。。。。。ESD保；；；；；；；て骷会吸收静电的能量，，，，，，保；；；；；；；ず竺娴闹餍酒。。。。。。然而在如此极端的环境之下，，，，，，正本的 ESD 保；；；；；；；て骷难以招架高能量静电的沉复冲击。。。。。。。一样的场景，，，，，，我们也对其他 PC 进行了对比验证，，，，，，仍旧存在 USB 接口失效的情况。。。。。。。面对这一挑战，，，，，，我们决定迎难而上，，，，，，解决这个问题。。。。。。。

诠释：ESD保；；；；；；；て骷是一种对电路信号进行起保；；；；；；；ぷ饔玫男酒，，，，，在静电灌入的瞬间对高压进行吸收，，，，，，保；；；；；；；ず竺娴闹餍酒槐换鞔。。。。。。

难题沉沉：复现故障难倒多人

传统的ESD保；；；；；；；て骷无法满足需要，，，，，，寻找更具保；；；；；；；つ芰Φ腅SD器件似乎才是解决之路。。。。。。。然而，，，，，，方向看似了了，，，，，，现实操作起来却绝非易事……

为了找到故障的本原，，，，，，我们首先必要正确复现故障情况。。。。。。。选取尺度的ESD静电测试模型进行检测，，，，，，全发国际的尺度是设备需在“接触放电8kV”和“空气放电15kV”的前提下维持正常工作，，，，，，不得失效。。。。。。。然而，，，，，，只管反复尝试，，，，，，设备始终未能达到预期的USB端口败坏状态。。。。。。。无法仿照涌现实故障环境，，，，，，若何来验证对策有效性呢？？？？？？ 

接触放电：ESD静电枪接触到的表壳情况下，，，，，，进行ESD放电。。。。。。。

空气放电：ESD静电枪对ESD放电后靠近表壳，，，，，，会出现空气放电的火花。。。。。。。

默默思虑之后，，，，，，我们回归到道理层面进行分析：静电放电，，，，，，最终是能量作用在USB信号上，，，，，，而后打坏主芯片；；；；；；；；那静电枪直接对准USB信号线放电，，，，，，相对于目前对表壳放电的方式，，，，，，是不是能量会更强？？？？？？

基于这样的构思，，，，，，我们进行了尝试，，，，，，在测试了几次之后，，，，，，居然出现了 USB 接口失效的情况。。。。。。。并且，，，，，，我们发现静电电压等级越高，，，，，，就越容易败坏。。。。。。。

终于，，，，，，我们找到了复现故障的步骤！

极限挑战：粉碎性测试+刻薄指标

测试复现步骤有了，，，，，，那么测试到4kV还是8kV能力确保现场设备不再出现类似故障？？？？？？没有汗青经验可借鉴，，，，，，也查问不到有关尺度，，，，，，这属于高度粉碎性的测试，，，，，，很少有厂商发展，，，，，，只能靠我们自己摸索。。。。。。。

我们采购了一批设备，，，，，，进行粉碎性测试，，，，，，尝试寻找这个指标。。。。。。。发现有些厂商为节约成本，，，，，，连 ESD 保；；；；；；；て骷都未上，，，，，，1kV 都扛不住。。。。。。，，，，，也有的能够打到2kV，，，，，，4kV，，，，，，6kV，，，，，，少部门设备能够测试到 8kV 。。。。。。。测试中还发现，，，，，，被保；；；；；；；さ闹餍酒咕驳缒芰Σ罹嘁埠艽螅，，，，，部门能力强，，，，，，而有些则较弱。。。。。。。在无法代替主芯片的情况下，，，，，，我们只能寻找更强的ESD保；；；；；；；て骷改善。。。。。。。

综合以上各类情况，，，，，，我们设定了“打信号+8kV”的刻薄指标。。。。。。。

面对烧毁：寻找芯片的崎岖之路

接下来，，，，，，我们联系了国内表驰名的 ESD 保；；；；；；；て骷厂商，，，，，，收到不少器件，，，，，，然而现实测试成效却不尽如人意，，，，，，大部门了局都低于4kV，，，，，，离8kV还有较大的差距。。。。。。。

有厂商向我们推荐了一颗ESD保；；；；；；；て骷，，，，，，利益是触发保；；；；；；；さ牡缪购艿汀。。。。。。固然规格书没写能够保；；；；；；；SB，，，，，，但我们测试成效很好，，，，，，能够达到 8kV——这似乎让我们看到了成功的曙光。。。。。。。但在更多测试时，，，，，，幼概率出现 USB 鼠标不成用的情况。。。。。。。深刻钻研后发现，，，，，，在USB的信号上使用，，，，，，由于保；；；；；；；さ缪固停，，，，，这颗 ESD 保；；；；；；；て骷会出现闩锁景象（一向处于保；；；；；；；ぷ刺薹ǜ丛，，，，，这个规划最终也只能宣告失败。。。。。。。

为进一步加强抗静电能力，，，，，，我们曾思考在 USB 信号线上串接电阻，，，，，，或许能提升 0.5kV。。。。。。。但是兼容性变差，，，，，，为预防就义兼容性，，，，，，只好烧毁串接电阻的设法。。。。。。。期间我们还找到了单体能力很强的 ESD 器件，，，，，，可依然无法达到“信号测试 8kV”的指标。。。。。。。

那段功夫，，，，，，我们天天用静电枪测试，，，，，，打坏了无数的板子！各类规划接连被否定，，，，，，寻找芯片的路路似乎已走到终点，，，，，，难路我们只能选择烧毁吗？？？？？？

灵感闪现：跳出通例的新蹊径

在索求的迷雾中，，，，，，团队中的一员突发奇想，，，，，，提出了一个颠覆通例的思路：若是单个ESD保；；；；；；；て骷不及以招架静电的冲击，，，，，，那么是否双沉保；；；；；；；——使用两个ESD器件——可能提供更强的防护能力？？？？？？这个看似单一的设法，，，，，，在其时却如同哥伦布的“竖鸡蛋”尝试通常，，，，，，开启了一条全新的蹊径。。。。。。。当我们执行了这个创新规划，，，，，，进行了第二轮的打板测试，，，，，，了局令人振奋——不仅顺利达到了8kV的严苛尺度，，，，，，甚至在12kV的高压下也阐发出了卓越的不变性。。。。。。。

因而我们选取了双ESD的USB接口设计，，，，，，并且一向沿用下来，，，，，，近几年我们再也没有遇到USB接口败坏的问题！

然而故事到这里还没实现——

持续卷自己：全口都要高尺度，，，，，，不容妥协！

在USB接口信号测试获得中意成就之后，，，，，，全发国际脚步并未终场。。。。。。。我们深知，，，，，，其他接口在面对极端情况时，，，，，，同样存在着败坏的风险。。。。。。。

为了确保每一个接口都能达到更高的尺度，，，，，，我们还开发了“静电信号接口测试板”，，，，，，把所有的插接信号引到表部，，，，，，以方便使用静电枪进行测试。。。。。。。我们将所有测试指标统一提升至8kV，，，，，，并将其纳入全发国际云桌面产品的尺度测试流程之中！

这种信号测试在行业内并无统一的尺度，，，，，，很多厂商甚至未曾进行此类测试，，，，，，在全发国际这已经造玉成发国际根基测试项目——由于全发国际是“以用户需要为导向”做设计。。。。。。。即便这意味着增长成本，，，，，，我们也愿意为了向客户提供高品质的产品而致力。。。。。。。我们坚信：只有不休挑战自我，，，，，，能力铸就卓越。。。。。。。