静电；；；；；；；；杭嘶肪诚碌姆阑つ烟

在进入医疗市场后的第一个冬季，，，，，，，西北地域的一家医院向我们反馈了一个问题：“我们买的云桌面，，，，，，，有几台USB 接口接连出现问题，，，，，，，没法子用了。。。。。”

我们即刻赶赴现场进行调查，，，，，，，相识到西北冬季的空气极度干燥，，，，，，，加之医院内部为招架寒冷全力供暖，，，，，，，医生们进入房间时会脱下厚沉的表套，，，，，，，紧接着插入认证 U 盘，，，，，，，这一连串的作为极易产生强烈的静电。。。。。医生们每天屡次插拔认证 U 盘，，，，，，，历经几个月的反复操作后，，，，，，，USB 接口失灵，，，，，，，甚至导致整个芯片败坏，，，，，，，无法开机。。。。。 

通常而言，，，，，，，硬件接口设计城市配置 ESD ；；；；；；；；て骷，，，，，，，以对接口信号予以；；；；；；；；ぃㄈ缟贤妓荆。。。。ESD；；；；；；；；て骷会吸收静电的能量，，，，，，，；；；；；；；；ず竺娴闹餍酒。。。。然而在如此极端的环境之下，，，，，，，正本的 ESD ；；；；；；；；て骷难以招架高能量静电的沉复冲击。。。。。一样的场景，，，，，，，我们也对其他 PC 进行了对比验证，，，，，，，仍旧存在 USB 接口失效的情况。。。。。面对这一挑战，，，，，，，我们决定迎难而上，，，，，，，解决这个问题。。。。。

诠释：ESD；；；；；；；；て骷是一种对电路信号进行起；；；；；；；；ぷ饔玫男酒，，，，，，，在静电灌入的瞬间对高压进行吸收，，，，，，，；；；；；；；；ず竺娴闹餍酒槐换鞔。。。。

难题沉沉：复现故障难倒多人

传统的ESD；；；；；；；；て骷无法满足需要，，，，，，，寻找更具；；；；；；；；つ芰Φ腅SD器件似乎才是解决之路。。。。。然而，，，，，，，方向看似了了，，，，，，，现实操作起来却绝非易事……

为了找到故障的本原，，，，，，，我们首先必要正确复现故障情况。。。。。选取尺度的ESD静电测试模型进行检测，，，，，，，全发国际的尺度是设备需在“接触放电8kV”和“空气放电15kV”的前提下维持正常工作，，，，，，，不得失效。。。。。然而，，，，，，，只管反复尝试，，，，，，，设备始终未能达到预期的USB端口败坏状态。。。。。无法仿照涌现实故障环境，，，，，，，若何来验证对策有效性呢？？？？？？ 

接触放电：ESD静电枪接触到的表壳情况下，，，，，，，进行ESD放电。。。。。

空气放电：ESD静电枪对ESD放电后靠近表壳，，，，，，，会出现空气放电的火花。。。。。

默默思虑之后，，，，，，，我们回归到道理层面进行分析：静电放电，，，，，，，最终是能量作用在USB信号上，，，，，，，而后打坏主芯片；；；；；；；；那静电枪直接对准USB信号线放电，，，，，，，相对于目前对表壳放电的方式，，，，，，，是不是能量会更强？？？？？？

基于这样的构思，，，，，，，我们进行了尝试，，，，，，，在测试了几次之后，，，，，，，居然出现了 USB 接口失效的情况。。。。。并且，，，，，，，我们发现静电电压等级越高，，，，，，，就越容易败坏。。。。。

终于，，，，，，，我们找到了复现故障的步骤！

极限挑战：粉碎性测试+刻薄指标

测试复现步骤有了，，，，，，，那么测试到4kV还是8kV能力确保现场设备不再出现类似故障？？？？？？没有汗青经验可借鉴，，，，，，，也查问不到有关尺度，，，，，，，这属于高度粉碎性的测试，，，，，，，很少有厂商发展，，，，，，，只能靠我们自己摸索。。。。。

我们采购了一批设备，，，，，，，进行粉碎性测试，，，，，，，尝试寻找这个指标。。。。。发现有些厂商为节约成本，，，，，，，连 ESD ；；；；；；；；て骷都未上，，，，，，，1kV 都扛不住，，，，，，，也有的能够打到2kV，，，，，，，4kV，，，，，，，6kV，，，，，，，少部门设备能够测试到 8kV 。。。。。测试中还发现，，，，，，，被；；；；；；；；さ闹餍酒咕驳缒芰Σ罹嘁埠艽，，，，，，，部门能力强，，，，，，，而有些则较弱。。。。。在无法代替主芯片的情况下，，，，，，，我们只能寻找更强的ESD；；；；；；；；て骷改善。。。。。

综合以上各类情况，，，，，，，我们设定了“打信号+8kV”的刻薄指标。。。。。

面对烧毁：寻找芯片的崎岖之路

接下来，，，，，，，我们联系了国内表驰名的 ESD ；；；；；；；；て骷厂商，，，，，，，收到不少器件，，，，，，，然而现实测试成效却不尽如人意，，，，，，，大部门了局都低于4kV，，，，，，，离8kV还有较大的差距。。。。。

有厂商向我们推荐了一颗ESD；；；；；；；；て骷，，，，，，，利益是触发；；；；；；；；さ牡缪购艿汀。。。。固然规格书没写能够；；；；；；；；SB，，，，，，，但我们测试成效很好，，，，，，，能够达到 8kV——这似乎让我们看到了成功的曙光。。。。。但在更多测试时，，，，，，，幼概率出现 USB 鼠标不成用的情况。。。。。深刻钻研后发现，，，，，，，在USB的信号上使用，，，，，，，由于；；；；；；；；さ缪固，，，，，，，这颗 ESD ；；；；；；；；て骷会出现闩锁景象（一向处于；；；；；；；；ぷ刺薹ǜ丛，，，，，，，这个规划最终也只能宣告失败。。。。。

为进一步加强抗静电能力，，，，，，，我们曾思考在 USB 信号线上串接电阻，，，，，，，或许能提升 0.5kV。。。。。但是兼容性变差，，，，，，，为预防就义兼容性，，，，，，，只好烧毁串接电阻的设法。。。。。期间我们还找到了单体能力很强的 ESD 器件，，，，，，，可依然无法达到“信号测试 8kV”的指标。。。。。

那段功夫，，，，，，，我们天天用静电枪测试，，，，，，，打坏了无数的板子！各类规划接连被否定，，，，，，，寻找芯片的路路似乎已走到终点，，，，，，，难路我们只能选择烧毁吗？？？？？？

灵感闪现：跳出通例的新蹊径

在索求的迷雾中，，，，，，，团队中的一员突发奇想，，，，，，，提出了一个颠覆通例的思路：若是单个ESD；；；；；；；；て骷不及以招架静电的冲击，，，，，，，那么是否双沉；；；；；；；；——使用两个ESD器件——可能提供更强的防护能力？？？？？？这个看似单一的设法，，，，，，，在其时却如同哥伦布的“竖鸡蛋”尝试通常，，，，，，，开启了一条全新的蹊径。。。。。当我们执行了这个创新规划，，，，，，，进行了第二轮的打板测试，，，，，，，了局令人振奋——不仅顺利达到了8kV的严苛尺度，，，，，，，甚至在12kV的高压下也阐发出了卓越的不变性。。。。。

因而我们选取了双ESD的USB接口设计，，，，，，，并且一向沿用下来，，，，，，，近几年我们再也没有遇到USB接口败坏的问题！

然而故事到这里还没实现——

持续卷自己：全口都要高尺度，，，，，，，不容妥协！

在USB接口信号测试获得中意成就之后，，，，，，，全发国际脚步并未终场。。。。。我们深知，，，，，，，其他接口在面对极端情况时，，，，，，，同样存在着败坏的风险。。。。。

为了确保每一个接口都能达到更高的尺度，，，，，，，我们还开发了“静电信号接口测试板”，，，，，，，把所有的插接信号引到表部，，，，，，，以方便使用静电枪进行测试。。。。。我们将所有测试指标统一提升至8kV，，，，，，，并将其纳入全发国际云桌面产品的尺度测试流程之中！

这种信号测试在行业内并无统一的尺度，，，，，，，很多厂商甚至未曾进行此类测试，，，，，，，在全发国际这已经造玉成发国际根基测试项目——由于全发国际是“以用户需要为导向”做设计。。。。。即便这意味着增长成本，，，，，，，我们也愿意为了向客户提供高品质的产品而致力。。。。。我们坚信：只有不休挑战自我，，，，，，，能力铸就卓越。。。。。